差分電遷移率分級器DEMC 1000
簡要描述:差分電遷移率分級器DEMC 1000DEMC 1000差分電遷移率分級器被廣泛的應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的標準測試,同時也可用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米粒徑測量。
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- 廠商性質(zhì):代理商
- 更新時間:2024-09-09
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DEMC 1000差分電遷移率分級器
DEMC 1000差分電遷移率分級器被廣泛的應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的標準測試,同時也可用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米粒徑測量。Palas DEMC有兩個版本可用。短分級柱(1000型)的版本適用于4至600 nm的尺寸范圍。DEMC尺寸分級器根據(jù)其電遷移率選擇氣溶膠顆粒并將其導至出口(可參考ISO 15900定義標準)。在分析多分散顆粒源時,DEMC差分電遷移率分級器用于獲得一定尺寸的非常窄范圍內(nèi)(單分散)納米顆粒的粒度分布。DEMC的準確尺寸確定和可靠性能非常重要,尤其是對于校準設置。通過在觸摸屏上直接輸入尺寸(nm)或使用箭頭按鈕增加和減小尺寸。
DEMC 1000差分電遷移率分級器可用于Palas SMPS系統(tǒng)的組件,可以連續(xù)且快速地掃描氣溶膠的粒徑分布。最短可在30秒內(nèi)或每十進制最多64個尺寸的通道中執(zhí)行掃描。用戶使用圖形化用戶界面控制DEMC,該界面提供測量值的線性和對數(shù)顯示,以及集成數(shù)據(jù)記錄器的數(shù)據(jù)管理。該軟件提供復雜的數(shù)據(jù)評估(各種統(tǒng)計和平均值)及導出功能。
差分電遷移率分級器DEMC 1000優(yōu)點:
用戶可以在型號允許的尺寸范圍內(nèi)選擇任何尺寸。
DEMC 可以與多種計數(shù)器并用組成SMPS(掃描遷移率粒度儀)。
連續(xù)快速掃描測量原理
圖形化顯示測量值
使用7 英寸觸摸屏和GUI 進行直觀操作
集成數(shù)據(jù)記錄儀
低維護
功能可靠
減少您的運營費用
差分電遷移率分級器DEMC 1000工作原理
氣溶膠通過進樣口導入DEMC柱,沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流,確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準。該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常為空氣),比氣溶膠的體積大,且在閉環(huán)中連續(xù)循環(huán)。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率,從而決定尺寸分類器的分辨率。在內(nèi)部和外部電極之間施加電壓產(chǎn)生徑向?qū)ΨQ電場。內(nèi)電極帶正電,末端有一個小縫隙。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力,帶負電顆粒轉移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率,一些顆粒會通過小縫隙離開DEMC。這些具有相同電遷移率的分類顆??捎糜谙掠畏治?。如果DEMC是作為SMPS系統(tǒng)的組件使用的,則電
壓和電場將連續(xù)變化。不同遷移率的顆粒離開DEMC,并由納米粒子計數(shù)器和冷凝粒子計數(shù)器(如Palas UF-CPC)或氣溶膠靜電計(如Palas UF-CPC)連續(xù)測量計數(shù)。方便實用的軟件提供多數(shù)據(jù)組合(如電壓,粒子數(shù)等)并取得粒度分布數(shù)據(jù)如圖3所示
差分電遷移率分級器DEMC 1000用戶界面和軟件:
基于持續(xù)的客戶反饋,用戶界面和軟件的被設計成可以進行直觀的操作、實時控制并顯示測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。此外,通過集成的數(shù)據(jù)記錄器,完善的導出功能和網(wǎng)絡支持,該軟件可以實現(xiàn)數(shù)據(jù)管理功能。測量數(shù)據(jù)有多種形式顯示和評估。DEMC軟件和硬件也支持其他制造商使用納米粒子計數(shù)器。
差分電遷移率分級器DEMC 1000技術參數(shù)
參數(shù)說明 | 描述 |
尺寸通道 | 最高256(128 /十進制) |
用戶界面觸摸屏 | 800•480像素,7英寸(17.78厘米) |
數(shù)據(jù)記錄儀存儲 | 4GB |
軟件 | PDAnalyze |
分類范圍(尺寸) | 4 ? 607nm |
調(diào)節(jié)范圍(電壓) | 1 ? 10,000 V |
體積流量(鞘氣) | 2.5 ? 14升/分鐘 |
撞擊器 | 噴嘴,用于3個不同的截止點 |
安裝條件 | +5 ? +40°C(控制單元) |
差分電遷移率分級器DEMC 1000應用領域:
冷凝粒子計數(shù)器(CPC)的校準單分散顆粒源
SMPS 的系統(tǒng)組件